N-FACILITY

국가연구시설

소재·부품·장비분야 산업현장의 기술적 난제 및
애로사항 해결을 지원합니다.

1협의체 소개 비전
미션 나노기술·산업 발전에 기여하는 연구기반 조성
비전 미래를 혁신하는 세계최고수준의 나노기술 종합 지원기관
추진 전략
  • 첨단장비 공동활용 및 연구지원서비스 확대
  • 연구성과 실용화 및 기업 지원
  • 나노전문인력 양성
역량
시설 나노 청정실 2,479 m2(지상 2층 1,530평, 12인치 반도체테스트베드, 센서팹 포함), 나노바이오 연구실, 평가분석실 등 나노종합연구시설 구축
장비 나노공정(CMOS, MEMS) 247대, 특성평가 64대, 기타(바이오, 소재 등) 53대, 총 364대
*12인치 공정장비(ArF Immersion Scanner 등) 10대 포함
인력 105명(연구현장 경력 평균 15년 이상)
핵심 분야 반도체소자 및 소재·부품·장비, IoT센서, 나노바이오센서, 구조/특성분석
2구성·조직(시설현황 등)

2본부 1부 4센터 9실

구성·조직
3지원분야(지원범위, 지원시설) 반도체 소재·부품·장비 개발 및 성능평가
반도체 소재 포토레지스트용 소재, 실리콘 기판소재, 공정용 가스 및 케미컬 소재, 각종 메탈 타겟소재, 슬러리 및 스트리퍼 등
반도체 부품 장비용 부품, 이송용 부품, 공정시설용 부품
반도체 장비 노광, 식각, 세정, 증착, 평탄화, 이온주입 관련장비 등
나노종합기술원 팹 서비스 영역

반도체(시스템반도체) 소자 및 소부장, 센서(IR 등), 나노바이오칩 등 반도체 기반 제조공정, 특성분석평가

  • 나노공정

    나노공정

  • 나노 구조 시스템 및 소재

    나노 구조 시스템 및 소재

  • 나노바이오

    나노바이오

  • 특성평가 분석

    특성평가 분석

4지원절차(서비스 이용 방법 등)
서비스 이용 절차
5보유 연구시설 장비 소재ㆍ부품ㆍ장비 분야 보유 연구시설ㆍ장비
  • ‌연구장비 : 나노공정(CMOS, MEMS) 247대(12인치 테스트베드 10대 포함), 나노바이오 12대, 특성평가 64대, 신소재 14대, 기타 27대 등 364대 구축
  • 연구시설 : 클린룸 5,067m2 (지상2층), 연구동 16,679m2 (지하1층~지상9층), CUB동 4,687m2 (지상4층)
소재ㆍ부품ㆍ장비 분야 보유 연구시설ㆍ장비
대표 연구시설·장비
  • 300mm 액침 불화아르곤 엑시머 레이저 노광기
    300mm 액침 불화아르곤 엑시머 레이저 노광기
    • 주요 사양 및 성능
      • 웨이퍼 크기 : 12인치
      • 노광광원 : 파장 193 nm
        • ArF excimer laser
      • 해상도 : 45 nm 이하
      • N.A. 0.85–1.35 (variable)
      • Alignment 정도
        • 45 nm 이하 ( │x│+3σ)
      • Field size, for reticle
        • X: 26.0 mm Y: 33.0 mm
    • 제조사 : ASML
  • 300mm 화학기상증착 시스템300mm PECVD
    300mm 화학기상증착 시스템300mm PECVD
    • 주요 사양 및 성능
      • 웨이퍼 크기 : 12인치
      • Showerhead-type PECVD
      • 3Twin PECVD Chamber
        • TEOS USG - Silane based Oxide/Nitride
        • ACL(Amorphous Carbon Layer)
      • Heater Temp. R.T to 550 ℃
      • HF/LF RF Plasma
      • Thickness Uniformity
        • Max-Min <3.5% (WiW/WtW)
    • 제조사 : AMAT
  • CD-SEM (300mm)
    CD-SEM (300mm)
    • 주요 사양 및 성능
      • 웨이퍼 크기 : 12인치
      • Detection method
        • BSE direct detection
        • Energy filter
      • High Ip(max 500 pA) availability
      • Process Specification
        • Precison : 0.15 nm
        • Effective Resolution : 1.35 nm
        • Detector : Upper - direct/Lower – converting
        • Throughput : 60 WPH
        • Max. image pixel size 2048x2048
    • 모델명(제조사) : CG6300(Hitachi)
  • Dielectric Etcher
    Dielectric Etcher
    • 주요 사양 및 성능
      • 웨이퍼 크기 : 12인치
      • CCP Type
      • Power Source: 2Mhz, 27Mhz, 60Mhz (RF Pulsing)
      • Dual Upper Electrode Temp Tuning
      • High ESC Temp : ~80 ℃
      • Etch rate (Oxide) : ~ 3000Å / min
      • Gas: O2, N2, CH3F, CF4, CHF3, NF3, COS, Ar, C4F6, F4F8
      • Tuning Gas : O2, C4F8, C4F6, CH2F2
      • O2(20/200/3000 sccm), N2(100 sccm), CH3F(200 sccm)
      • CF4(200 sccm), CHF3(200 sccm), NF3(50 sccm), COS(50 sccm)
      • Ar(1000 sccm), C4F6(200 sccm, Tun 10 sccm)
      • F4F8(200 sccm, Tun 20 sccm), CH2F2(Tun 10 sccm)
    • 모델명(제조사) : FLEX GX(Lam Research)
  • Oxidation Furnace
    Oxidation Furnace
    • 주요 사양 및 성능
      • 300mm Oxidation Furnace for Full Automation
      • EFEM(Stocker + FIMS)
      • 300mm Oxidation Furnace for Full Automation
      • 5 zone heating control
      • Boat rotation
      • External torch system
      • Process : Wet oxidation / Dry oxidation / Anneal
      • Gas : H2 / O2 / N2
      • Process temp : 800℃ ~ 900℃
      • Thickness non-uniformity ≤ 3% @ 1000Å
    • 모델명(제조사) : TERA300SE(원익IPS)
  • LPCVD NIT Furnace
    LPCVD NIT Furnace
    • 주요 사양 및 성능
      • 300mm LPCVD Furnace for Full Automation
      • EFEM(Stocker + FIMS)
      • FOUP transfer robot / wafer transfer robot
      • 5 zone heating control
      • Boat rotation
      • Cold trap
      • Process : LPCVD silicon nitride
      • Gas : NH3 / DCS(SiH2Cl2) / N2
      • Process temp : 700℃ ~ 780℃
      • Thickness non-uniformity ≤ 5% @ 1000Å
    • 모델명(제조사) : DJ-1224VN(Kokusai Electric Korea)
6기업지원 우수성과사례 8인치 반도체 테스트베드 지원 서비스('20.1~' 21.5)
분야 품목 지원기관(개) 장비이용(건수) 지원금액 (백만원)
소재 기능성박막/케미컬소재(PR, SOC), 케미컬
원소재(전구체류), 공정특수가스 등
25 6,513 3,854
부품 IC 테스트용 소켓부품, 광학/세라믹 부품 6 79 53
장비 박막증착장비, CMP/식각장비 개발 10 1,374 1,529
41 7,966 5,436
12인치 반도체 테스트베드지원 서비스('21.3~5)
항 목 소재평가 장비개발 패턴웨이퍼 공정 개발
기관수 9 5 2 1 17
장비이용(건수) 127 51 22 16 216
지원금액(백만원) 178 52 169 23 422
테스트베드 활용 산업현장형 전문인력 양성지원
구 분 '17년 '18년 '19년 '20년
교육(수료)인원(명) 37 35 86 121
취업인원(명) 27 22 56 97
7기업 대상 안내 가능한 지원 항목

반도체 테스트베드 활용 소부장 기술개발 및 성능평가지원(장비서비스 및 공동기술개발사업 추진 등)

  • 반도체 소재 : 포토레지스트용 소재, 실리콘 기판소재, 공정용 가스 및 케미컬 소재, 각종 메탈 타겟소재, 슬러리 및 스트리퍼 등
  • 반도체 부품 : 장비용 부품, 이송용 부품, 공정시설용 부품
  • 반도체 장비 : 노광, 식각, 세정, 증착, 평탄화, 이온주입 관련장비 등
8담당자정보
    • 연구 책임자

      이석재

    • E-mail

      sjlee@nnfc.re.kr

    • Tel

      042-366-1630

    • 실무 담당자

      오재섭

    • E-mail

      jhoh@nnfc.re.kr