N-FACILITY

국가연구시설

소재·부품·장비분야 산업현장의 기술적 난제 및
애로사항 해결을 지원합니다.

1협의체 소개 역량

배터리,반도체,디스플레이,연료전지,태양전지,열전소재,수소저장재료,인공광합성 - 등의 소재분석에 특화된 최적 분석시스템 및 첨단분석장비 보유

비전
  • 소재·부품·장비 분야 연구·상용화 개발을 위한 테스트베드 역할
  • 에너지 소재·부품·장비 핵심품목의 분석, 성능평가, 표준화 등의 맞춤지원 플랫폼으로 소부장 기업의 연구개발 지원 및 분석시험 지원
  • 특수 분석을 통한 산업계가 당연한 문제 극복
2구성·조직(시설현황 등)
에너지-전자 소재부품 분야 분석 지원서비스

에너지-전자 소재부품 분야 분석 지원서비스

3지원분야(지원범위, 지원시설)
  • 에너지 소재 및 부품과 관련된 연구분야에서 측정분석장비 및 시설을 이용하여 소재·부품·장비 핵심품목의 분석, 실증, 성능평가, 표준화 등의 서비스 지원
  • 기술적 난제 및 이슈, 기술사업화, 특허출원 등의 수요에 대한 솔루션 제공
  • 분석장비 활용을 위한 교육 지원
  • 연구장비엔지니어양성교육 지정기관 (과기부 지정)
  • 주사현미경분야 KOLAS 공인인증기관
4지원절차(서비스 이용 방법 등)
  • KIST 특성분석센터 홈페이지(https://aac.kist.re.kr)를 통한 온라인 접수
    • 방법: 회원가입후 분석의뢰서 작성
    • 분석상담전화: 02-958-4949, 5959
지원절차(서비스 이용 방법 등)
  • 분석상담
    • 02-958-4949, 5959 및 해당 장비담당자
      (유경험자 등은 분석상담 필요없이 분석외뢰서 작성)
  • 분석의뢰서 신청
    • 특성분석센터 홈페이지(https://aac.kist.re.kr/)에서 회원가입&로그인 후 분석의뢰서 신청
  • 분석진행
    • 표면, 전자현미경 분야 분석 (시간제 예약) : 해당일정대로 진행
    • 화학분석, 가속기분석 (건 예약) : 접수번호 순 진행
  • 분석내역서 계산서발행
    • 분석내역서 시스템 의뢰자 메일로 자동 발급
    • 문의 전화 : 02-958-6971
5보유 연구시설 장비
  • 기초화학, 나노소재, 차세대소재, 친환경소재, 에너지소재 분야의 전반적인 종합분석이 가능한 Lab scale의 20대 범용장비 65종 구축 및 국가 대형장비 (방사광, 중성자, 가속기, NMR 등) 시설 보유
    • 대형장비 기반 초정밀 분석 장비
    • 원자 수준의 성분/구조 분석, 화학결합 분석장비
    • 표면성분, 전자구조, X-ray 정밀 구조분석, 실시간 실험 장비
    • 극 미량 성분 정량분석 및 이미징, 이온주입 및 표면개질분석 장비
    • 나노영역의 실시간 실험 장비
    • 초극미량 성분 분석 및 불순물 이미징 분석 장비
대표 연구시설·장비
  • 투과전자현미경
    투과전자현미경
    • 주요 사양 및 성능
      • Accelerating voltage : 80 ~ 300 kV
      • STEMresolution : < 0.08nm
      • Probe Cs-corrector
      • Monochromator
      • Lorentzlens
      • DualEELS
    • 모델명 : Titan 80-300 (FEI)
  • 원자 탐침 단층 촬영(Atom Probe Tomography)
    원자 탐침 단층 촬영(Atom Probe Tomography)
    • 주요 사양 및 성능
      • Time Of Flight (TOF)
      • Lateral Resolution : < 0.4nm
      • Depth Resolution : < 0.2nm
      • Analytical sensitivity : < 10appm
    • 모델명 : LEAP4000XHR (CAMECA)
  • 중대형 이온빔 가속기 (6MV, 2MV)
    중대형 이온빔 가속기 (6MV, 2MV)
    • 주요 사양 및 성능
      • Terminal Voltage : 6.0 MV (3 MV, 14C)
      • AMS (Accelerator Mass Sptectometry)
        • Ion Source : Two SNICS sources
        • 50 samples(Age Dating) / 200 Samples (Bio AMS)
        • Available Isotopes : 10Be, 14C, 26Al, 36Cl, 41Ca, 129I
        • Machine Background : 5×10-16 (14C)
      • IBA (Ion Beam Analysis)
        • Source: Duoplasmatron(He-,H-) / Negative Sputter Ion source
        • PIXE / TOF-ERD / High Resolution RBS
        • IBMM (Ion Beam Material Modification)
    • 모델명 : 6 MV HVEE Tandetron
  • 비행시간형 이차이온질량분석기 (TOF-SIMS)
    비행시간형 이차이온질량분석기 (TOF-SIMS)
    • 주요 사양 및 성능
      • Ion beam: Bi+, C60+, Cs+
      • Ion Energy Range: 1~10 keV
      • Mass resolution : >11,000 (at m/z=29)
      • Mass range: >10,000 amu
      • Sensitivity : 4.5x108 Al+/nC @7,000 (FWHM)
      • Lateral Resolution : <70 nm (with Bi+)
    • 모델명 : ToFSIMS5
6기업 대상 안내 가능한 지원 항목

소부장 분야 기술애로 해결을 위한 분석자문 지원

7담당자정보
    • 연구 책임자

      김낙균 센터장

    • E-mail

      nkkim@kist.re.kr

    • Tel

      02-958-5996

    • 실무 담당자

      박진숙 전문원

    • E-mail

      jspark1509@kist.re.kr

    • Tel

      02-958-4949