소재부품장비

N-FACILITY

국가연구시설

소재·부품·장비분야 산업현장의 기술적 난제 및
애로사항 해결을 지원합니다.

1협의체 소개 역량

배터리,반도체,디스플레이,연료전지,태양전지,열전소재,수소저장재료,인공광합성 - 등의 소재분석에 특화된 최적 분석시스템 및 첨단분석장비 보유

비전

2구성·조직(시설현황 등)

에너지-전자 소재부품 분야 분석 지원서비스

3지원분야(지원범위, 지원시설)

에너지 소재 및 부품과 관련된 연구분야에서 측정분석장비 및 시설을 이용하여 소재·부품·장비 핵심품목의 분석, 실증, 성능평가, 표준화 등의 서비스 지원
기술적 난제 및 이슈, 기술사업화, 특허출원 등의 수요에 대한 솔루션 제공
분석장비 활용을 위한 교육 지원
연구장비엔지니어양성교육 지정기관 (과기부 지정)
주사현미경분야 KOLAS 공인인증기관

4지원절차(서비스 이용 방법 등)

KIST 특성분석센터 홈페이지(https://aac.kist.re.kr)를 통한 온라인 접수
- 방법: 회원가입후 분석의뢰서 작성
- 분석상담전화: 02-958-4949, 5959

5보유 연구시설 장비

대표 연구시설·장비

투과전자현미경
- 주요 사양 및 성능
  - Accelerating voltage : 80 ~ 300 kV
  - STEMresolution : < 0.08nm
  - Probe Cs-corrector
  - Monochromator
  - Lorentzlens
  - DualEELS
- 모델명 : Titan 80-300 (FEI)
원자 탐침 단층 촬영(Atom Probe Tomography)
- 주요 사양 및 성능
  - Time Of Flight (TOF)
  - Lateral Resolution : < 0.4nm
  - Depth Resolution : < 0.2nm
  - Analytical sensitivity : < 10appm
- 모델명 : LEAP4000XHR (CAMECA)
중대형 이온빔 가속기 (6MV, 2MV)
- 주요 사양 및 성능
  - Terminal Voltage : 6.0 MV (3 MV, ¹⁴C)
  - AMS (Accelerator Mass Sptectometry)
    
    Ion Source : Two SNICS sources
    
    50 samples(Age Dating) / 200 Samples (Bio AMS)
    
    Available Isotopes : ¹⁰Be, ¹⁴C, ²⁶Al, ³⁶Cl, ⁴¹Ca, ¹²⁹I
    
    Machine Background : 5×10^-16 (¹⁴C)
  - IBA (Ion Beam Analysis)
    
    Source: Duoplasmatron(He^-,H-) / Negative Sputter Ion source
    
    PIXE / TOF-ERD / High Resolution RBS
    
    IBMM (Ion Beam Material Modification)
- 모델명 : 6 MV HVEE Tandetron
비행시간형 이차이온질량분석기 (TOF-SIMS)
- 주요 사양 및 성능
  - Ion beam: Bi+, C60+, Cs+
  - Ion Energy Range: 1~10 keV
  - Mass resolution : >11,000 (at m/z=29)
  - Mass range: >10,000 amu
  - Sensitivity : 4.5x108 Al+/nC @7,000 (FWHM)
  - Lateral Resolution : <70 nm (with Bi+)
- 모델명 : ToFSIMS5

6기업 대상 안내 가능한 지원 항목

소부장 분야 기술애로 해결을 위한 분석자문 지원

7담당자정보

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