1협의체 소개
한국기술교육대학교 공용장비센터는 기계·금속 핵심분야의 연구시설과 석·박사급의 전문인력을 바탕으로 소재·부품·장비 관련 분석서비스, 기술지도, 인력양성 등 종합 솔루션을 제공하고, 현재 30개 항목의 국제공인시험 지원 및 포장재 분석 등 다양한 분야의 시험평가 지원
기계·금속 분야의 선도연구시설 장비활용을 통한 기업 경쟁력 향상2구성·조직(시설현황 등)
| 분석총괄/상담 | 서금희 | 팀장 | 041-580-4880 | khseo@koreatech.ac.kr |
|---|---|---|---|---|
| 표면/구조분석 | 권수경 | 선임 | 041-580-4882 | susu6767@koreatech.ac.kr |
| 한겨례 | 주임 | 041-580-4890 | greenclover@koreatech.ac.kr | |
| 김해든 | 주임 | 041-580-4887 | ddddeun@koreatech.ac.kr | |
| 이규한 | 연구원 | 041-580-4891 | leekyuhan00@koreatech.ac.kr | |
| 성분분석 | 유정현 | 선임 | 041-580-4881 | lily273@koreatech.ac.kr |
| 박용현 | 전임 | 041-580-4888 | bount99@koreatech.ac.kr | |
| 박수진 | 전임 | 041-580-4886 | sujin7@koreatech.ac.kr | |
| 신승현 | 주임 | 041-580-4817 | tls10220@koreatech.ac.kr | |
| 3D분석 | 곽찬재 | 선임 | 041-580-4883 | daisy319@koreatech.ac.kr |
| 신뢰성평가 | 박도준 | 전임 | 041-580-4889 | neodojun@koreatech.ac.kr |
| 행정지원팀 | 이보라 | 전임 | 041-580-4885 | daisy319@koreatech.ac.kr |
| 곽초원 | 연구원 | 041-580-4884 | dr2ron@koreatech.ac.kr |
3지원분야(지원범위, 지원시설)
- 핵심분야 : 반도체·디스플레이·자동차 관련 기계·금속 분야
- 국제공인시험기관(KOLAS) 운영
| 01. 역학시험 | 02. 화학시험 | |
|---|---|---|
| 01.001 금속 및 관련제품 | 01.013 물리적시험 | 02.025 실내 및 기타환경 |
|
|
|
- 소재·부품·장비 분야 종합 Solution 제공
- 고가의 첨단연구장비를 활용한 분석 서비스 지원
- 기계·금속 분야의 원천기술 개발을 위한 기술지도
- 대학보유특허 기술이전
- 기업 재직자 대상 전문기술 인력양성
4지원절차(서비스 이용 방법 등)
- 모든 절차는 홈페이지를 통해 진행됩니다. (https://urc.koreatech.ac.kr)
- 세금계산서 발급을 원하시는 경우 반드시 타기관회원으로 가입 바랍니다.
5보유 연구시설 장비
표면/구조/성분 분석장비(70점) 및 신뢰성/시제품 제작 가공장비(38점) 등 총 108점
대표 연구시설·장비-
집속이온빔장비(FIB)- 주요 사양 및 성능
- 컬럼타입
- FIB : Ga+ ion (Tomahawk ion)
- SEM : Electron
- 샘플최대크기 : 150 mm diameter, 7 mm height
- 배율 : 73 ~ 1,000,000. 선명한 관찰 : ~ 300,000
- 컬럼타입
- 모델명 : Helios 600i
- 주요 사양 및 성능
-
플라즈마집속이온빔주사전자현미경(PFIB)- 주요 사양 및 성능
- Column : Inductively coupled Xe+ Plasma (High performance PFIB 2.0 column)
- Resolution : 20 nm @ 30 kV
- Beam current : 1.5 pA ~ 2.5 μA
- GIS : C, Pt
- 모델명 : Helios G4 PFIB CXe DualBeam
- 주요 사양 및 성능
-
X선광전자분광기(XPS)- 주요 사양 및 성능
- 분석 가능 빔사이즈 : 30~400 μm
- 분석 가능한 원소 : Li~U
- 표면으로부터 분석 깊이 : ~10 nm
- 모델명 : K-Alpha+
- 주요 사양 및 성능
-
고성능X선회절분석기(XRD)- 주요 사양 및 성능
- X-ray Power : 3 kW 이상
- Detector : 동시사용 고속 검출기
- Goniometer 방식 : 시료수평장착 방식
- 모델명 : D8 ADVANCE
- 주요 사양 및 성능
-
시간비행형 이차이온 질량분석기(TOF-SIMS)- 주요 사양 및 성능
- Mass resolution at low mass (29 u) : 12,000 (FWHM) or more
- Mass resolution at higher mass (> 200 u) : 16,000 (FWHM) or more
- Flight length : 2 meter or higher
- 모델명 : ION-TOF M6
- 주요 사양 및 성능
-
글로우방전 질량분석기(GD-MS)- 주요 사양 및 성능
- Resolution : Variable resolution, up to 20,000
- Signal Stability : < 5 % RSD over 30 min
- Peak Side Stability : < 30 ppm over 30 min
- 모델명 : GD-90 Trace
- 주요 사양 및 성능
-
유도결합플라즈마분광기(ICP-OES)- 주요 사양 및 성능
- Plasma viewing: vertical dual view
- Resolution : 0.007 nm at 202.032 nm
- 모델명 : 5100 ICP-OES
- 주요 사양 및 성능
-
유도결합플라즈마질량분석기(ICP-MS)- 주요 사양 및 성능
- Type : Quadurople (Rh Target)
- RF Generator: 27.12 MHz solid state generator
- 모델명 : XseriesⅡ
- 주요 사양 및 성능
6기업 대상 안내 가능한 지원 항목
- 소부장 분야 기술애로 해결을 위한 기술자문 지원
- 기업의 기술애로 해결을 위하여 공용장비센터 홈페이지 회원가입을 통한 장비활용, 인력양성, 기술지도 프로그램 연계
7담당자정보
-
- 연구 책임자
남병욱 교수
- E-mail
bunam@koreatech.ac.kr
- Tel
041-580-4810
- 연구 책임자
-
- 실무 담당자
서금희 팀장
- E-mail
khseo@koreatech.ac.kr
- Tel
041-580-4880
- 실무 담당자
8홈페이지 대표 홈페이지 바로가기